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產品列表PRODUCTS LIST
電子產品PCT高壓加速老化試驗方法
一、前言：
PCT（Pressure Cooker Test）高壓加速老化試驗主要用于評估電子產品在高溫高濕環(huán)境下的可靠性。
二、試驗設備選擇
要根據電子產品尺寸和試驗要求，選擇合適的PCT試驗箱。設備的溫濕度控制精度要高，如溫度控制精度能達到±0.5℃，濕度控制精度能達到±3%RH，而且要能夠提供穩(wěn)定的壓力環(huán)境，壓力范圍一般在0 0.2MPa左右。
三、試驗樣品準備
確保電子產品外觀清潔，無明顯的灰塵、油污等污染物。
對電子產品進行編號，記錄其初始狀態(tài)，包括功能測試數(shù)據、外觀情況等。
四、試驗條件設置
溫度：通常設置在120℃ 130℃之間，這個溫度范圍能有效加速產品內部材料的老化過程。
濕度：一般設置為100%RH，模擬潮濕環(huán)境。
壓力：壓力約為0.2MPa，模擬產品在惡劣環(huán)境下可能承受的壓力。
時間：依據產品的特性和使用要求確定試驗時間，如消費電子產品可以設置24 48小時，工業(yè)電子產品可能需要72 168小時。
五、試驗過程監(jiān)控
實時監(jiān)測溫濕度和壓力，通過試驗箱的傳感器和監(jiān)控系統(tǒng)，確保試驗環(huán)境參數(shù)穩(wěn)定。
觀察電子產品的運行狀態(tài)，看是否有冒煙、異味、變形等異常現(xiàn)象。
六、試驗后檢測
對電子產品進行外觀檢查，查看是否有部件損壞、腐蝕、變形等情況。
進行功能測試，檢查電子產品的各項性能指標是否符合要求，如電氣性能、機械性能等。
檢測項目 | 試驗前數(shù)據 | 試驗后數(shù)據 | 數(shù)據變化情況 | 是否合格 |
溫度（℃） | 25 | 125 | 升高100℃ | 是 |
濕度（%RH） | 60 | 100 | 增加40%RH | 是 |
壓力（MPa） | 0.1 | 0.2 | 增加0.1MPa | 是 |
外觀狀況 | 無損傷、無變形 | 外殼輕微變形 | 出現(xiàn)變形 | 否 |
電氣性能（電阻值Ω） | 100 | 120 | 增大20Ω | 是（若標準允許） |
機械性能（按鍵彈力N） | 2 | 1.8 | 減少0.2N | 是（若標準允許） |
