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產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于測(cè)試材料瞬間高溫至低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的物理變化。適用于金屬、塑料、橡膠、電子機(jī)電產(chǎn)品、航空航天、能源材料、醫(yī)療化工等材料行業(yè)模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)
| 更新時(shí)間 | 2024-12-10 |
|---|---|
| 訪問次數(shù) | 1442 |
| 產(chǎn)品型號(hào) | GDC-4027-2 |
| 品牌 | 榮計(jì)達(dá)儀器 | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材,電子,汽車,電氣,綜合 |
可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途：
高低溫沖擊試驗(yàn)箱用于測(cè)試材料瞬間高溫至低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的物理變化。適用于金屬、塑料、橡膠、電子機(jī)電產(chǎn)品、航空航天、能源材料、醫(yī)療化工等材料行業(yè)模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)
可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn)：
1、采用氣動(dòng)控制，提籃在高低溫室內(nèi)切換轉(zhuǎn)移，
2、轉(zhuǎn)換時(shí)間短，溫度恢復(fù)時(shí)間短，溫變速度快，
3、采用兩箱法，新一代外觀設(shè)計(jì)，整體結(jié)構(gòu)緊湊，體積小，提高了工作室的溫度均勻性。
4、既可作冷熱沖擊試驗(yàn)，也可以做單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用。
5、備有高檔萬向滾輪，方便在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)移動(dòng)。
6、真空雙層加熱觀察窗，自帶照明。
7、多數(shù)據(jù)接口，SD卡儲(chǔ)存，USB輸出，電腦APP遠(yuǎn)程操作。
技術(shù)參數(shù)
1、提籃有效容積 27L
2、規(guī)格尺寸：外寬深高：750×2100×1900mm，內(nèi)520×600×600mm
3、提籃尺寸：300×300×300mm
4、高溫預(yù)溫度范圍：60℃～+180℃
5、低溫預(yù)溫度范圍：-10℃～-60℃
6、溫度沖擊范圍：-40℃～+120℃
7、提籃轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤10S
8、溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5min
9、溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃
10、溫度均勻度：≤2℃
11、溫度偏差：≤±2℃
12、高溫預(yù)熱時(shí)間：20℃～180℃≈30min、
13、低溫預(yù)冷時(shí)間：20℃～-60℃≈75min
14、總功率：≈12kw
15、運(yùn)行功率：≈8KW
16使用電壓：AC220 50Hz
規(guī)格 | 提籃尺寸 | 外形尺寸 |
27L | 300×300×300 | 750×2100×1900 |
80L | 400×400×500 | 1200×2500×1800 |
150L | 500×500×600 | 1500×2600×1850 |
210L | 600×500×700 | 1700×2650×1900 |
510L | 800×800×800 | 2500×3200×2100 |
1000L | 1000×1000×1000 | 3000×3500×2100 |
溫度參數(shù) | 高溫預(yù)溫度范圍 | 60℃～+200℃ |
低溫預(yù)溫度范圍 | -10℃～-80℃ | |
沖擊范圍 | -40、-50、-65℃～120、150℃ 按要求選定 | |
溫度恢復(fù)時(shí)間 | ≤5min | |
溫度波動(dòng)度 | ≤±0.5℃ | |
溫度均勻度 | ≤2℃ | |
溫度偏差： | ≤±2℃ | |
提籃運(yùn)行 | 運(yùn)動(dòng)方式 | 氣動(dòng) |
提籃轉(zhuǎn)換時(shí)間 | ≤10S | |
安全保護(hù)
| 漏電、短路、超溫、電機(jī)過熱、壓縮機(jī)超壓、過載、過電流保護(hù)/控制器停電記憶 | |
滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法
GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)
GJB150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)
